SN74LVTH182502APM — Les Images ne sont que des références. Voir spécifications du produit pour plus de détails

SN74LVTH182502APM

IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP

fabricant: Texas Instruments

Fiche technique: SN74LVTH182502APM

prix:

USD $10.79

Stock: 1716 pcs

Paramètre produit

série

74LVTH

emballage

Tray

Type logique

ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers

Statut partiel

Active

Type de montage

Surface Mount

Nombre de Bits

18

Paquet/dossier

64-LQFP

Tension d’alimentation

2.7V ~ 3.6V

Numéro de Base

74LVTH182502

Température de fonctionnement

-40°C ~ 85°C

Boîtier du fournisseur

64-LQFP (10x10)

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