SN74ABT18652PM — Les Images ne sont que des références. Voir spécifications du produit pour plus de détails

SN74ABT18652PM

IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP

fabricant: Texas Instruments

Fiche technique: SN74ABT18652PM

prix:

USD $19.89

Stock: 457 pcs

Paramètre produit

série

74ABT

emballage

Tray

Type logique

Scan Test Device With Transceivers And Registers

Statut partiel

Active

Type de montage

Surface Mount

Nombre de Bits

18

Paquet/dossier

64-LQFP

Tension d’alimentation

4.5V ~ 5.5V

Numéro de Base

74ABT18652

Température de fonctionnement

-40°C ~ 85°C

Boîtier du fournisseur

64-LQFP (10x10)

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